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光纖熔接技術(shù)規(guī)范 光纖傳輸具有傳輸頻帶寬、通信容量大、損耗低、不受電磁干擾、光 纜直徑小、重量輕、原材料來源豐富等優(yōu)點(diǎn),因而正成為新的傳輸媒 介。光在光纖中傳輸時(shí)會(huì)產(chǎn)生損耗, 這種損耗主要是由光纖自身的傳 輸損耗和光纖接頭處的熔接損耗組成。 光纜一經(jīng)定購(gòu), 其光纖自身的 傳輸損耗也基本確定, 而光纖接頭處的熔接損耗則與光纖的本身及現(xiàn) 場(chǎng)施工有關(guān)。努力降低光纖接頭處的熔接損耗, 則可增大光纖中繼放 大傳輸距離和提高光纖鏈路的衰減裕量。 一、影響光纖熔接損耗的主要因素 影響光纖熔接損耗的因素較多, 大體可分為光纖本征因素和非本 征因素兩類。 1.光纖本征因素是指光纖自身因素,主要有四點(diǎn)。 (1)光纖模場(chǎng)直徑不一致; (2)兩根光纖芯徑失配; (3)纖芯截面不圓; (4)纖芯與包層同心度不佳。 其中光纖模場(chǎng)直徑不一致影響最大,按 CCITT(國(guó)際電報(bào)電話咨 詢委員會(huì) )建議,單模光纖的容限標(biāo)準(zhǔn)如
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