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對(duì)電容成像交流法微電容測(cè)量電路由雜散電容導(dǎo)致的測(cè)量噪聲進(jìn)行了研究。利用運(yùn)算放大器的噪聲模型,對(duì)運(yùn)算放大器輸入電壓噪聲、輸入電流噪聲以及周邊電阻元件的熱噪聲通過雜散電容作用于交流法微電容測(cè)量電路輸出的影響進(jìn)行了理論分析,給出了測(cè)量電路輸出中噪聲峰峰值的理論計(jì)算公式并進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。理論分析及實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:交流法微電容測(cè)量電路前級(jí)運(yùn)算放大器輸入電壓噪聲通過測(cè)量端與地之間的雜散電容形成的噪聲是該微電容測(cè)量電路輸出噪聲的主要來源。最后給出了電容成像系統(tǒng)前級(jí)運(yùn)算放大器選型的指導(dǎo)原則。
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